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Capacidad Técnica

CaracterísticasMínimo fabricableMáximo fabricableToleranciaNotas

Acabados superficiales:
   Hal Lead Free (SnCuNi)
   Estaño químico (Inm.Sn) (*)
   Plata química (Inm.Ag)
   NiAu químico (ENIG)

 

 



Ni: 3 µm
Au: 0,04 µm

 

 



Ni: 7µm
Au: 0,07 µm 


-


Aleación Sn100C
(*) Subcontratado

 

No disponible para circuitos con base Aluminio

Acabados serigráficos:
   Mascara fotosensible
   Marcaje de componentes
   Grafito conductor
   Laca pelable


-

-

-

Diferentes colores
Diferentes colores

Substrato base:
   FR-4 Tg Standard
   CEM-1
   IMS (Aluminio)


130 ºC

140 ºC

 -
 
Dependiendo del fabricante

Cobre base:
   FR-4 Tg Standard
   CEM-1
   IMS (Aluminio)

 


17 µm
35 µm
35 µm


70 µm
35 µm
70 µm

Bajo solicitud (consultar plazos): 105 µm

Definido por capacidad del proveedor

Diámetro Taladro (sustrato base)

Diámetro Taladro (sustrato base)

300 μm (FR-4 y CEM-1)
700 μm (IMS)

 

- + 0,10 / -0 mm
O tolerancia equivalente

Ancho y aislamiento del conductor (Cobre base)

Ancho y aislamiento del conductor (Cobre base)

100 μm (17 μm)
100 µm (35 µm)

200 µm (70 µm)

- ± 25%
± 25%
± 30%
-

Corona de cobre (Cobre base)

Corona de cobre (Cobre base)

100 μm (17 μm)
125 µm (35 µm)
250 µm (70 µm)

- Recomendación: para una correcta superficie de soldadura (en taladros de componentes) ≥ 200 µm

Distancia entre taladro No Metalizado y conductor

Distancia entre taladro No Metalizado y conductor

200 µm - - -

Distancia de un conductor al borde de la placa (fresado)

Distancia de un conductor al borde de la placa (fresado)

150 µm - - -

Descentrado entre cobre y taladro

Descentrado entre cobre y taladro

- - ± 100 µm -

Descentrado entre contorno y taladro

alt

- ± 150 µm

Distancia de un conductor al eje teórico de scoring

Distancia de un conductor al eje teórico de scoring

500 µm - - -

Diámetro máximo a cubrir con laca pelable

Diámetro máximo a cubrir con laca pelable

0,30 mm 1,80 mm - -

Distancia entre laca pelable y pad

Distancia entre laca pelable y pad

0,80 mm - - -

Corona de solder mask

Corona de solder mask

50 µm - - -

Ancho de trazo de solder mask

Ancho de trazo de solder mask

100 µm - - -

Distancia desde solder mask a conductor

Distancia desde solder mask a conductor

50 µm - - -

Descentrado entre solder mask y cobre

Descentrado entre solder mask y cobre

- - ± 150 µm -

Línea de marcado de componentes

Línea de marcado de componentes

100 µm - - -

Descentrado entre marcado de componentes y cobre

Descentrado entre marcado de componentes y cobre

- - ± 200 µm -

Ancho en conductores de grafito

Ancho en conductores de grafito

600 µm - - -

Separación entre conductores de grafito

Separación entre conductores de grafito

400 µm - - -

Posicionamiento del scoring (eje de cuchilla)

Posicionamiento del scoring (eje de cuchilla)

- - ± 150 µm -

Espesor central (core) después de scoring

Espesor central (core) después de scoring

200 µm - ± 150 µm Standard: 300 µm

Descentrado entre cuchillas de scoring

Descentrado entre cuchillas de scoring

- - ± 150 µm -

Espesor final

Espesor final

0,50 mm

1,0 mm
1,0 mm
3,2 mm

1,6 mm
3,0 mm
±  10 % (e > 1,0 mm) y  ±  100 μm (e ≤ 1,0 mm)
±  10 %
±  10 %
Valores para material FR-4

Valores para material CEM-1
Valores para material IMS

Alabeo y curvatura

Alabeo y curvatura

- 1% de la diagonal - -

Dimensiones de producto terminado (fresado)

Dimensiones de producto terminado (fresado)

15 x 15 mm 600 x 500 mm < 30 mm: ± 0.10 mm
< 120 mm: ± 0.15 mm
>120 mm: ± 0.20 mm
-

Otros

- - - Según Norma IPC-A-600 revisión G

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